DFN8(6*8)-1.27翻盖探针芯片测试座|晶振测试座

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DFN8(6*8)-1.27翻盖探针芯片测试座

DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座 QFN8-1.27-CPO1PNL烧录座厂家批发
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产品详情产品参数产品型号图纸常见问题公司资质

可定制类似QFN/DFN/12/14/16/20/23/25/26/28等非标小尺寸老化座/烧录座，如果我们店铺里未列出您所需要的规格尺寸，请随时电话联系咨询！谢谢

DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:DFN8 引脚间距1.27mm

测试座:DFN8(6*8)-1.27

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:DFN8(6*8)-1.27

引脚间距(mm):1.27

脚位:8

芯片尺寸:6*8