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DDR3×8开短路测试治具,DDR开短路测试治具详细信息/Detailed Information

DDR3×8开短路测试治具,DDR开短路测试治具

------定制各种DDR/GDDR/LPDDR测试治具(最少间距可做到0.3mm,根据客户提供的PCB板单独设计)
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DDR3×8开短路测试治具

产品特点:

※结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便,布局更加紧凑,符合人机操作。
※采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
※常规采用转接板+SOCKET的结构,可以有效减少对于客户PCB的损伤,同时使结构标准化,可以提高产品的稳定性。
※探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
※采用浮板结构,对于IC有球无球都能测试
※探针材料:铍铜镀金(标准)
※探针可更换,维修方便,成本低。
※绝缘材料: FR4
※采用指针电流表,快速判定IC内部是否短路,及是否存在过流现象;

※交货快:最快三天内交货。

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