您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座采用进口玻铜材料
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » BGA221/EMCP221翻盖双面弹芯片老化座

BGA221/EMCP221翻盖双面弹芯片老化座详细信息/Detailed Information

BGA221/EMCP221翻盖双面弹芯片老化座

此老化座布板有通孔焊接与实心焊盘接触两种(区别是老化座底部pin针长短不同),两种都有现货,欢迎来电咨询
订购热线:13631538587
立即咨询

eMCP221翻盖弹片老化座


产品简介

产品用途:编程座、测试座,对eMCP221的IC芯片进行测试、读写                       

适用封装:eMCP221  引脚间距0.5mm

测试座:eMCP221-0.5

特点:翻盖取放芯片方便,操作简单

【此老化座布板有通孔焊接与实心焊盘接触两种(区别是老化座底

部pin针长短不同),下单可指定要哪种,工厂全部现货。】



采购:BGA221/EMCP221翻盖双面弹芯片老化座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电B座三楼3010C