感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。
有锡球测试：指测试带有完整锡球的IC芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触； 无锡球测试：指测试没有锡球的IC芯片，采用尖头探针，直接与PAD接触；
如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 常见问题
有锡球/无锡球测试的区别
2021-10-08 12:01:26
关于“DFN8,QFN系列,产品,WSON8,QFN烧录座,QFN老化座,微针模组,车规芯片老化测试座,BGA老化测试座,BGA测试座,BGA定制测试座”的相关资讯
IC/芯片老化板+老炼夹具是如何提高测试准确性和可靠性的？鸿怡电子DRAM、SRAM、NAND、DIMM、LOGIC-DDR存储芯片测试座解决方案从充电宝召回事件看电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心作用为什么半导体芯片从设计到量产过程中，工程师都需要用到芯片测试座的评估与测试？鸿怡HMILU:芯片快速验证与测试:芯片测试座-芯片老练夹具-芯片烧录座厂家
新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管 测试座_PDFN芯片老化座
GDDR5探针测试座 BGA178测试架 夹具 工装 2.8GHz高频测试
QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座 烧录座芯片转换座
大电流弹片微针模组