“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务

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QFN12-0.4芯片老化座_下压qfn12测试座_NP506-012-038-SC-G

2021-09-24 12:11:45 

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN12-0.4芯片老化座_下压qfn12测试座_NP506-012-038-SC-G,同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN12-0.4下压芯片老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN12的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN12 引脚间距0.4mm

测试座:QFN12-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-12-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:12

芯片尺寸:2*2

QFN12老化测试座

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