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弹片测试座和探针测试座的区别?

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浏览:- 发布日期:2017-06-08 10:02:11【

一、什么是探针?探针有那些常用种类?

探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。 

1.ICT探针 (ICT series Probes)

2.界面探针(Interface Probes)

3.微型探针(MicroSeries Probes)

4.开关探针(Switch Probes)

5.高频探针(Coaxial Probes)

6.旋转探针(Rotator Probes)

7.高电流探针(High Current Probes)

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

10.汽车线束测试测试探针

二、IC芯片老化、测试、烧录主要用到种类,探针的主要参数。

5.高频探针(Coaxial Probes)

用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

7.高电流探针(High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

探针的主要参数:

引脚数量

间距(mm)

使用温度

最高IC频率

三、探针图片及解剖:

 1、颜色:黄色

 2、组成:针头+针管+弹簧


IC测试座

探针在测试座里的使用状况:有四个接触点,摩擦点多,高低温下容易变形,镀金范围广。核心技术掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。

探针测试座

五、什么是弹片?

弹片是电测试的接触媒介,为精密型电子五金元器件,比探针工艺简单,使用性能比探针好。

弹片在测试里的使用状况:有二个接触点,没有摩擦点,高低温下不会变形,镀金范围小。核心技术掌握在我们公司手中,弹性好,不会出现偏移,没有磨损,寿命长。

弹片测试座


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