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SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座
SOP芯片开尔文老化座规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:34pin
芯片引脚间距:0.65mm
更多 +
DFN8pin-2.0mm-8×8mm翻盖双层板烧录座
DFN8pin芯片双层板烧录座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:2.0mm
芯片尺寸:8×8mm
更多 +
SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座
SOP芯片开尔文老化座规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:28pin
芯片引脚间距:1.27mm
开尔文测试方式
更多 +
定制QFN24pin-0.5mm(3.5×5.5mm)翻盖探针老化座
QFN芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:3.5×5.5mm
更多 +
QFN68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座
QFN68pin芯片下压老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:68pin
芯片引脚间距:0.35mm
芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座
探测器件40pin测试座socket规格参数:
器件引脚:40pin
器件引脚间距:1.27mm
器件尺寸:22×22mm
接地:3pin
更多 +
AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座
车规级功率器件老化座规格参数:
适配IC封装:TO247
pin脚数:3pin
引脚中心距:5.44mm
更多 +
定制DFN54pin-0.45mm-5x6mm塑胶翻盖探针测试座
DFN芯片测试座规格参数:
芯片封装:DFN
芯片引脚:54pin
芯片引脚间距:0.45mm
芯片尺寸:5*6mm
更多 +
定制LGA144pin-1.27mm-(15x15mm)合金旋钮探针老化测试座
LGA芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片尺寸:15×15mm
厚度:2.82mm
更多 +
定制BGA169pin-0.8mm-11x11mm翻盖合金测试治具
BGA169pin芯片测试治具规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:169pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:11×11mm
芯片厚度:1.38mm
更多 +
BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)
BGA芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:13×7.5mm
更多 +
新款QFN32pin-0.5mm-5X5mm翻盖烧录座
QFN32pin芯片烧录座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:5*5mm
更多 +
定制LGA24pin-0.7mm-5.5x6.5mm合金翻盖探针老化座
LGA芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.7mm
芯片尺寸:5.5*6.5mm
更多 +
定制模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座
模块110pin弹片测试座规格参数:
模块引脚:110pin
模块引脚间距:1.0mm
模块尺寸:39×34mm
更多 +
定制TO252-5pin合金翻盖老化座
TO252-5pin老化测试座规格参数:
封装类型:TO252
引脚:5pin
引脚间距:1.14mm
本体尺寸:6.4mm
含引脚尺寸:10.6mm
更多 +
定制DFN14pin-0.4mm-2X3mm合金翻盖测试座
DFN芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:2×3mm
更多 +
定制SOP24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座
SOP芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:1.52mm
芯片尺寸:21×11.7mm
更多 +
定制SIP25pin-1.27mm-15x15mm合金翻盖测试座
SIP25pin芯片测试座规格参数:
封装类型:SIP
引脚:25pin
引脚间距:1.27mm
尺寸:15×15mm
更多 +
定制LGA92pin-0.45mm-12x12mm塑胶翻盖探针测试座
LGA芯片测试座规格参数:
芯片引脚:92pin
芯片引脚间距:0.45mm
芯片尺寸:12×12mm
芯片厚度:1.15mm
更多 +
定制传感器模块7pin-1.0mm-6.6x2.9mm塑料翻盖弹片测试座
传感器模块弹片测试座规格参数:
模块引脚:7pin
引脚间距:1.0mm
模块尺寸:6.6×2.9mm
更多 +
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