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CSOP6pin合金翻盖式
芯片测试
座socket
CSOP6pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:CSOP
芯片引脚:6pin
引脚间距:4.9mm
适配芯片尺寸:16.9*10.8*6.9mm
接触介...
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BGA16pin合金翻盖式
芯片测试
座socket
BGA16pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:16pin
引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:2.6*2.6mm
接触介质:探针
...
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WLCSP20pin塑胶翻盖式晶圆级
芯片测试
座socket
WLCSP20pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:20pin
引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:1.94*2.40mm
接触介质:探针...
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BGA361pin合金旋钮翻盖式探针
芯片测试
座socket
BGA361pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:361pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:10*10mm
接触介质...
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WLCSP48(实际下针9pin)塑胶翻盖式晶圆级
芯片测试
座socket
WLCSP48pin
芯片测试
座规格参数信息:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:48pin(实际下针9pin)
芯片引脚间距:0.35mm
适配芯片尺寸...
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DFN9pin塑胶翻盖式
芯片测试
座socket
DFN9pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:9pin
引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:3.3*3.3mm
接触介质:探...
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BGA54pin合金下压式
芯片测试
座socket
BGA54pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:54pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:5.71*7.66mm
接触...
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QFN25pin合金翻盖式
芯片测试
座socket
QFN25pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:25pin
引脚间距:0.45mm
适配芯片尺寸:4*4mm
接触介质:探针<...
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LGA14pin塑胶旋钮翻盖式探针
芯片测试
座socket
LGA14pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3*2.5mm
接触介质:...
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BGA121pin合金翻盖式探针
芯片测试
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BGA121pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:121pin
引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:10*10mm
接触介质:探...
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LGA14pin一拖九工位旋钮双扣式探针
芯片测试
座socket
LGA14pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3*2.5mm
接触介质...
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LCC24pin旋钮翻盖式
芯片测试
座socket
LCC24pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC/CLCC/模块封装
芯片引脚:24pin
引脚间距:1.52mm
适配芯片尺寸:11.52*21.84m...
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BGA128pin塑胶翻盖式弹针
芯片测试
座socket
BGA128pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7mm
接触介质:弹片针
测试座结...
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QFN20pin芯片仿静电无磁翻盖式探针测试座socket
QFN20pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4*6mm
接触介质:探...
更多 +
LCC24pin合金翻盖式探针
芯片测试
座socket
LCC24pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
支持芯片封装形式:LCC/QFN/模块
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:10.16*10.16mm
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QFN48pin合金翻盖式通孔探针
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座socket
QFN48pin
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:46*8mm
芯片厚度:1.7mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试...
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QFN24pin合金翻盖式
芯片测试
座socket—qfn
芯片测试
夹具
QFN24pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料...
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LCC36pin合金翻盖式探针
芯片测试
座socket—LCC模块测试夹具
LCC36pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:36pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:9*9mm
接触介质:探针
测试座材料:合金+PEEK
...
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CQFN64pin-0.5mm-10.75X10.75mm塑胶翻盖式
芯片测试
座socket
CQFN64pin
芯片测试
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:CQFN
芯片引脚:0.5mm
适配芯片尺寸:10.75*10.75mm
接触介质:探针
测试座...
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BGA96ball-0.8mm-9×13mm存储
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BGA96球
芯片测试
座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
支持芯片封装形式:BGA/EMMC
芯片引脚:96pin/ball
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:9*13mm
...
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