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[新闻中心]鸿怡电子IC测试座推进芯片国产化替代：功率半导体HTGB老化测试解决方案2024年12月04日 15:00: 在功率半导体领域，如MOSFET、IGBT及二极管，HTGB（高温栅极偏置）测试被广泛应用，用以评估其在极端条件下的长期可靠性和性能稳定性。HTGB测试尤其关注在高温环境和偏压电压条件下器件的表现，从而对其在实际应用中的寿命和稳定性做出判断。理解HTGB测试的目的十分重要。甄别器件在高温和正负栅极偏压条件下的可靠性，是每一个生产优质功率半导体产品的重要步骤。HTGB测试不仅能揭示潜在的结构缺陷，还能通过长时间的模拟，确保产品在要求苛刻的电气条件下依然能稳定工作。这对于确保; 阅读（19）标签：定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架|产品|新闻|车规芯片老化测试座