- [新闻中心]从充电宝召回事件看电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心作用2025年07月09日 10:54
- 近期充电宝召回事件（如某品牌召回超120万台产品）暴露出电池电芯与电源芯片可靠性测试的关键作用。这一事件的核心原因是上游电芯供应商某公司在生产过程中违规变更原材料（如正负极隔膜材料），导致电芯内部混入金属异物，多次充放电后可能引发热失控甚至燃烧。而电池电芯、电源管理芯片（PMIC）的可靠性测试不足则加剧了风险，例如未能有效监测电芯状态或触发保护机制。 一、电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心挑战 1、材料一致性与工艺控制 电芯生产中，正
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- [新闻中心]鸿怡电子芯片测试座工程师：深刻解读大规模集成电路芯片可靠性老化测试2024年05月13日 11:25
- 1、大规模集成电路芯片具有高度集成的特点。它将数十亿个晶体管、电阻、电容等电子元件集成在一个微小的芯片上，大大提高了电子设备的功能和性能。鸿怡电子集成电路芯片测试座工程师介绍：与传统的离散元件相比，大规模集成电路芯片在体积、功耗和成本等方面都有明显的优势。 2、大规模集成电路芯片具备高度可靠性。在设计和制造过程中，严格的质量控制措施被采用，以确保芯片的质量和可靠性。同时，大规模集成电路芯片还具备较低的故障率和较长的使用寿命，能够满足各种复杂应用环境的需求。 3、大规模集成电
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