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QFN48-0.4翻盖弹片IC测试老化座

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QFN48-0.4翻盖弹片IC测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN48-0.4
测试座：QFN48-0.4老化座

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QFN48翻盖弹片老化座

产品简介

产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试

适用封装：QFN48-0.4

测试座：QFN48-0.4老化座

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