定制PDFN6x8 / QFN33-0.65开模翻开塑胶探针高温老化座老化夹具老炼座治具socket

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产品简介：PDFN6x8（QFN33-0.65封装）新封装芯片150℃高温老化座
特点：采用开模注塑外壳，核心部分通过CNC加工的方式定制各种非标老化测试座。
老化座适配芯片尺寸：6*8mm
老化座外形尺寸：12*18mm
老化座材质：PEI+镀镍金探针
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85%
机械寿命：10W+
老化寿命：2000H+

订购热线：13631538587

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产品详情

PDFN6*8翻盖探针老化座特点：
①翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式，单价低，交期快。
③采用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

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