您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 精密定制IC测试座 » QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具详细信息/Detailed Information

QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

产品名称:QFN封装电源芯片测试治具
详情描述:QFN封装,18pin 间距0.4mm 4*3mm
在客供的PCB板上装上测试socket,电源芯片,可耐高电流
订购热线:13631538587
立即咨询


产品名称:QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

产品特性:

1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:AC700V@1min;    Dielecteic Withstanding Voltage For 1 Minute AT AC700V
6、接触电阻:≤100mΩ;  
7、绝缘电阻(insulation resistance):1000MΩ Min At DC 500V ;
8、频率1GHZ;
9、机械寿命:≥10W次; 

产品特点

在客供的PCB板上装上测试socket,无需客户重新lay板。使用螺丝固定,拆装维修更方便。

接受一件起定制,量大价优


更多产品信息请点击



芯片测试治具

芯片18pin测试治具

芯片测试治具

电源芯片18pin测试治具

电源芯片测试治具

采购:QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

LCC48pin-1.016mm-12.65x12.65mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座
LCC48pin-1.016mm-12.65x12.65mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座
LCC48pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:1.016mm
适配芯片尺寸:12.65*12.65mm
LGA33pin-0.65mm-7x7mm合金翻盖探针芯片测试座
LGA33pin-0.65mm-7x7mm合金翻盖探针芯片测试座
LGA33pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:33pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:7*7mm
QFN64pin-0.5mm-10.9x10.9mm塑胶翻盖芯片测试座
QFN64pin-0.5mm-10.9x10.9mm塑胶翻盖芯片测试座
QFN64pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:10.9*10.9mm

相关资讯

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电B座三楼3010C