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晶振频率测试老化座详细信息/Detailed Information

晶振频率测试老化座

Open-top结构采用双触点技术,接触更稳定
?座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
?弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好
?镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
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产品特点:

1、pen-top结构采用双触点技术,接触更稳定;

2、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3、弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;

材料性能:

1、Socket 本体: PEI
2、 弹片材料:铍铜
3、 弹片镀层:镍金
4、 操作压力:0.5KG min,Pin越多压力越大
5、 接触阻抗:50mΩ max.
6、 耐压性:700V AC for 1 minute
7、 绝缘电阻:1,000MΩ 500V DC
8、 最大电流 :2A
9、 使用温度:-55℃~+175 ℃
10、 使用寿命:
Open-top结构:15000 次(机械测试)
翻盖结构:200000 次(机械测试)

采购:晶振频率测试老化座

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