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慧荣SM2256K主控转BGA316一拖二SSD闪存测试治具详细信息/Detailed Information

慧荣SM2256K主控转BGA316一拖二SSD闪存测试治具

该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的测试座有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。
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BGA316双面弹翻盖一拖二测试座

(此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上)

      BGA316翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案,翻盖操作取换芯片简单,大批量测试时减少对测试员工手的伤害!是目前行业内最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的测试座有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。


产品简介

产品用途:芯片测试座,对BGA316的IC芯片进行测试、读取数据  

适用封装:BGA316 引脚间距0.8mm   

测试座:BGA316 

特点:1、一块主板,两个BGA316的测试座,直接放入对应的芯片测试

SM2256K主控

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