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定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座详细信息/Detailed Information

定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座

BGA测试夹具是一种用于帮助检测集成电路芯片(BGA芯片)的性能和质量的工具。它可以将BGA芯片固定在测试板上,以确保芯片与测试器件之间的正确接触,从而进行可靠的功能和性能测试。由于BGA芯片和测试器件之间的连接非常微小和复杂,因此使用BGA测试夹具可以提高测试的准确性和效率,避免了手动操作可能引发的错误和损坏。BGA测试夹具通常由硬质塑料或金属制成,并包含特殊的夹具和探针,以适配不同型号和规格的BGA芯片。
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BGA测试夹具是一种用于帮助检测集成电路芯片(BGA芯片)的性能和质量的工具。它可以将BGA芯片固定在测试板上,以确保芯片与测试器件之间的正确接触,从而进行可靠的功能和性能测试。由于BGA芯片和测试器件之间的连接非常微小和复杂,因此使用BGA测试夹具可以提高测试的准确性和效率,避免了手动操作可能引发的错误和损坏。BGA测试夹具通常由硬质塑料或金属制成,并包含特殊的夹具和探针,以适配不同型号和规格的BGA芯片。


性能参数:
工作频率:1.2GHZ;
工作温度:-55℃~175℃;
单PIN电流:1A;
功率:5W;
接触阻抗:≤100mΩ
射频信号:无

BGA1156老化座

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采购:定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座

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