“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务

首页 精密定制IC测试座

SOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socket

SOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socketSOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socketSOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socketSOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socketSOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socket

产品简介

SOW36pin芯片测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:SOW
芯片引脚:36pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:35*13.58*2.6mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

产品详情

鸿怡电子生产定制定制的SOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座socket产品介绍

鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,
针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制.

产品介绍:
产品名称:SOW36pin-0.65mm合金翻盖芯片测试座
使用用途:对SOW36pin芯片进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片功能性测试,芯片可靠性测试
性能参数:电压最大20V,温度常温,单pin电流1A
产品特点:
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨,抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸,维护简单方便。

IC测试座

芯片测试座

芯片测试夹具

SOW芯片测试夹具

SOW芯片测试socket

我要下单

  • 姓名
  • 手机
  • 留言

网友热评