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BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座

BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片烧录座

产品简介

BGA272pin芯片编程烧录座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:272pin(实际下针85pin)
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:21*21mm
接触介质:探针
机械寿命:10万次≥
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:合金+PEEK

产品详情

鸿怡电子生产定制的BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片编程烧录座产品简介

鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,
针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制.
产品介绍:
产品名称:BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm-21*21mm合金翻盖探针芯片编程烧录座
使用用途:对BGA272pin芯片进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片功能性测试,芯片可靠性测试
性能参数:频率,电流,温度等物特殊要求
产品特点:
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨,抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸,维护简单方便。

IC烧录座

芯片编程烧写座

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BGA芯片烧录socket

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