“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务

首页 精密定制IC测试座

VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座

VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座

产品简介

VQFN12pin芯片测试夹具规格参数：
芯片测试座生产品牌：HMILU
芯片封装形式：VQFN
芯片引脚：12pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2.2*2.5mm

产品详情

鸿怡电子生产定制的VQFN12pin-0.5mm-2.2x2.5mm塑胶翻盖芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用VQFN12pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

VQFN12pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：200Mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试socket结构：翻盖式

芯片测试座材料：PEI

IC测试座

芯片测试座

芯片测试夹具

芯片测试socket

VQFN芯片测试夹具

上一页 余下全文

1/5

我要下单

  • 姓名
  • 手机
  • 留言

关于“产品,QFN系列,QFN烧录座,QFN老化座,定制测试座,定制测试治具,定制IC测试架”的相关产品

BGA752pin-0.65mm-19x19mm合金旋钮翻盖芯片测试座BGA752pin-0.65mm-19x19mm合金旋钮翻盖芯片测试座QFN64pin-0.5mm-10.9x10.9mm塑胶翻盖芯片测试座QFN64pin-0.5mm-10.9x10.9mm塑胶翻盖芯片测试座

LGA33pin-0.65mm-7x7mm合金翻盖探针芯片测试座LGA33pin-0.65mm-7x7mm合金翻盖探针芯片测试座LCC48pin-1.016mm-12.65x12.65mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座LCC48pin-1.016mm-12.65x12.65mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座

FBGA441pin-0.8mm-17.2x17.2mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座FBGA441pin-0.8mm-17.2x17.2mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座

BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座

模块20pin-2.5mm-28x28mm合金翻盖测试座socket模块20pin-2.5mm-28x28mm合金翻盖测试座socketCQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座

热点推荐

电子产品寿命短？HAST老化试验做了吗？寻找志同道合的工作伙伴！

网友热评