鸿怡电子生产定制的ESOP8pin-1.27mm-4.6x6mm翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用ESOP8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录（该款为老化测试，支持开尔文测试）
ESOP8芯片老化测试socket产品简介：
芯片测试电流：0.5A
芯片老化测试温度：-45°~+155°，老化时长168h和1000h重复使用
芯片老化座结构：翻盖式
芯片老化夹具材料：塑胶
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
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ESOP8pin-1.27mm-4.6x6mm翻盖探针芯片老化座
产品简介
ESOP8pin芯片老化测试夹具规格参数：
生产厂家品牌：HMILU
芯片封装形式：ESOP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：4.6*6mm
生产厂家品牌：HMILU
芯片封装形式：ESOP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：4.6*6mm
产品详情
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