鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.103mm-3.02X1.53mm开尔文合金翻盖芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，该款支持开尔文测试
DFN8pin芯片测试夹具产品简介：
芯片测试频率：300Mhz
芯片测试电压：750V
芯片测试温度：-45°~+125°
芯片测试座socket结构：翻盖式
芯片测试座材料：合金
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 精密定制IC测试座
DFN8pin-0.103mm-3.02X1.53mm开尔文合金翻盖芯片测试座
产品简介
DFN8pin芯片测试座socket规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.103mm
适配芯片尺寸：3.02*1.53mm
生产厂家品牌：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.103mm
适配芯片尺寸：3.02*1.53mm
产品详情
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