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8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座

8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座

产品简介

8+8pin光感探测器件测试座规格参数：
生产厂家：HMILU
器件引脚：8+8pin（正面8pin+背面8pin）
器件引脚间距：0.35mm
器件尺寸：2*2mm
器件厚度：1.0mm

产品详情

鸿怡电子生产定制的8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用光感探测器件测试环境：老化、测试、烧录

8+8pin光感探测器件测试座产品简介：

器件测试电流：600mA

器件测试频率：200Mhz

器件测试温度：-45°~+85°

器件正面和背面均需要下针

器件测试夹具结构：旋钮双扣式，器件正面需要开1.5mm天窗

器件测试座材料：合金

IC测试座

探测器件测试座

探测器件测试socket

器件测试座

器件测试socket

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