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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: eMMC153/169通用socket+转接板芯片分析座—新结构

1、eMMC 153 /169 ball ptich:0.5
2、频率F：1600MHZ
3、外形尺寸：25mm×25mm×4mm
4、避空高度：2mm（用于避空集成电路周围的元器件）
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: 三星eMMC黄点转DIP48探针芯片测试座

1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 准确定位测试焊盘及锡球.
4. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
5. 可调整压力，可以兼容IC厚度0.8-1.5mm.
6. 实...
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: eMMC153/169 eMCP162/186 eMCP221 转USB接口测试座三合一套装

产品用途:编程座、测试座，对eMMC153/169 eMCP221 eMCP162/186 的IC芯片进行测试、读写
测试方法：
1.选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内
2...
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: EMMC153/169翻盖弹片转USB芯片测试座

产品用途:编程座、测试座，对EMMC153/169的IC芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内
2.把USB线插到电脑上USB接口，打开座...
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: EMCP221翻盖弹片转SD芯片测试座

1. 采用弹片翻盖转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容221PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构，可以兼容IC厚度0.8-1....
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: eMCP162/186合金探针转SD芯片测试座

1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构，可以兼容IC厚度0.8-1. 更多 +

: eMCP162/186翻盖弹片转SD接口测试座

1. 采用弹片翻盖转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构，可以兼容IC厚...
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: EMMC169/153翻盖探针转SD芯片测试座

eMMC169/153合金探针转SD芯片测试座 1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6...
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: eMMC153/169翻盖弹片转SD接口芯片测试座

1. 采用翻盖弹片转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153PIN和169PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构，可...
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: 鸿怡 QFN32芯片测试座

1 采用手动翻盖式结构,操作方便；
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
3 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试准确率高；
4 采用浮板结构，对于...
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[新闻中心]突破微间距：鸿怡电子开尔文弹簧探针结构在WLCSP芯片测试座中的创新应用2025年03月12日 11:01: 随着半导体封装技术向高密度、微型化发展，晶圆级芯片封装（WLCSP）因其体积小、性能优的特点，成为消费电子、汽车电子等领域的主流选择。然而，WLCSP芯片的触点间距缩至0.35mm甚至更低，对测试座的精度与可靠性提出了更高要求。开尔文弹簧探针结构为核心，结合鸿怡电子等国产芯片测试座厂商的技术，探讨其在WLCSP芯片测试中的关键应用与创新突破。Kelvin 探针头设计应用于标准阵列测试插座或Volta 晶圆级别探针头( Volta WLCSP) ，提供稳健、易于维护、长寿命的测; 阅读（19）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架|WLCSP

[新闻中心]鸿怡电子SOT23系列芯片老化测试座Support IGBT MOSFET and Other Function IC2024年01月10日 14:50: SOT23是一种多用途的表面安装封装(Surface_Mount Package)，用于封装小尺寸的集成电路芯片(IC)。SOT23封装具有3~16个引脚，大多数情况下用于封装小型晶体管、二极管、稳压器、放大器等元件。 1、小型晶体管的封装方式多种多样。其中最常见的是SOT-23封装，尺寸仅为2.9mm × 1.3mm × 1.0mm，适用于体积有限的应用场景。此外，SOT-89封装也较为常见，尺寸约为4.5mm × 4.5mm &tim; 阅读（42）标签：产品|新闻|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]各类半导体传感器芯片测试座socket案例分享2023年07月20日 11:13: 一、品名：SOP32陀螺仪传感器芯片测试座封装尺寸：SOP封装，32pin，1.27mm间距，本体尺寸：8.5*18.65mm，厚度4.6mm 测试支持：频率50Mhz，电流200mA，旋转200/s，支持单个芯片转台测试；产品特色：按照芯片实际功能需求设计，允许高速旋转，应对高离心力的测试，测试座锁合力紧，接触阻抗低，有利于低耗测试；产品用途：陀螺仪 gyro，加速度计等位移传感器陀螺仪芯片测试座模块测试座二、品名：LCC22惯性传感模块测试; 阅读（27）标签：产品|新闻|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]功半导体率器件测试座socket案例2023年07月20日 11:03: 品名：DFN8x8大电流测试座封装尺寸：DFN8封装，间距0.95mm，尺寸8*8mm测试支持：过最高800V/30A功率多脉冲测试；测试环境温度-45~155℃；产品特色：按照芯片实际功能需求设计，允许大电流高电压高频开关脉冲测试，同时兼顾了高压大电流的绝缘设计，保证测试过程中用户的安全。产品用途：DFN8x8 MOSFET IC 功能测试主要应对高压大电流; 阅读（23）标签：产品|新闻|定制IC测试架|定制测试座|定制测试治具

[新闻中心]BGA156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试！2023年02月09日 15:27: BGA老化测试座、BGA测试座、BGA烧录座、BGA测试socket 芯片测试 BGA156pin芯片老化座规格参数：测试芯片封装类型：BGA 测试芯片引脚：156pin 测试芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：16×20mm BGA芯片老化测试座 BGA芯片老化测试要求：测试频率：小于200Mhz 测试温度：-40~+155 老化测试时长：5000小时测试电流：300mA 老化座材料：塑胶老化座结构：翻盖式 BGA156pin芯片老化测试座; 阅读（30）标签：新闻|BGA测试座|BGA定制测试座|定制测试座|产品

[新闻中心]QFN16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例2023年02月07日 15:16: QFN老化测试座规格参数：测试芯片封装类型：QFN 测试芯片引脚：16pin 测试引脚间距：0.5mm 测试芯片尺寸：3×3mm QFN封装芯片老化测试座 QFN16pin封装芯片老化测试要求：老化测试温度：-40~+100 性能测试：测试电流：整体1A 测试回损：-20db@2GHZ 测试插损：-2db@2GHZ 测试温度：正常温度老化测试座材料：合金老化测试座结构：旋钮式双扣制作方式：加工定制; 阅读（45）标签：新闻|产品|QFN系列|QFN烧录座|QFN老化座|定制测试座|定制测试治具

[新闻中心]深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例2023年02月06日 11:05: LCC测试座、LCC老化座规格：芯片封装类型：LCC 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求：测试温度：+150，无低温要求测试时长：8000小时（持续温度150）测试操作力：30每P 测试频率：-1db 3G 测试电流：1A（@150）接触电阻：30毫欧 10mA 20mV 绝缘电阻：DC100V 1000兆欧已上老化座材料：PEI 老化座结构：翻盖式; 阅读（24）标签：

[鸿怡动态]什么是芯片测试夹具？芯片测试如何选择芯片测试夹具？鸿怡电子！2022年11月01日 11:35: IC芯片测试夹具是在PCB测试基板上设计制作的，用于测试集成电路的电气性能测试的测试夹具，如各种封装的集成电路芯片和电子元件、CPU、模块核心板等。芯片测试夹具根据芯片的封装类型、形状尺寸、间距、PIN脚数量；如BGA2577芯片需要测试验证：那么我们必须知道芯片封装形式为BGA，PIN脚数为2577pin，引脚间距为1.0mm、芯片尺寸为52.5×52.5mm，这些参数在芯片规格书中均有体现，芯片测试夹具是根据这些参数来选择合适的测试座合金框架；; 阅读（200）标签：新闻|产品|QFN系列|BGA测试座|定制测试座|定制测试治具|晶振测试座|定制IC测试架|BGA老化测试座

[鸿怡动态]QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU2022年10月24日 10:58: QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU 在芯片封测行业市场上，QFN封装芯片有3种测试，测试、烧录、老化，即对应QFN测试座、QFN烧录座、QFN老化座。 HMILU案列： QFN探针测试座特点：芯片引脚：64pin 芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：9×9mm 采用合金材料旋钮方式，无缝隙压合 QFN封装具有良好的热性能，QFN封装底部有一个大面积的散热焊盘，可以用来传递封装芯片工作产生的热量，从而有效地将热量从芯片传递到芯; 阅读（148）标签：QFN系列|QFN烧录座|QFN老化座|产品|新闻|定制IC测试架|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]鸿怡电子SOP封装老化测试座介绍2022年06月16日 15:15: 众所周知，SOP封装是一种最常见的元器件形式，表面贴装型封装之一，比较常见的封装材料有：陶瓷、玻璃、塑料、金属等，目前基本采用塑料封装，主要用在各种集成成电路中。 SOP器件又称为SOIC（Small Outline Integrated Circuit，）是DIP的缩小形式，引线中心距为1.27mm、0.65mm居多，材料有塑料和陶瓷两种。它的应用范围很广泛，而且以后逐渐派生出SOJ（J型引脚小外形封装）、TSOP（薄小外形封装）、VSOP（甚小外形封装）、SSOP（缩小型; 阅读（72）标签：

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