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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 邮票孔112PIN（下针69PIN），间距1.1mm，尺寸35-35mm，厚度1.2mm测试治具

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: BGA77-1.27_9×15mm翻盖探针测试座

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: DFN8-0.5(2.5×2.5mm)合金翻盖测试座

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: 定制LGA9-0.3875一拖六翻盖探针老化座

产品名称：LGA9一拖六探针老化座
尺寸：1.5*1.5mm
间距：0.35mm
应用：QFN/LGA芯片的老化测试烧录
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$鸿怡电子定制非标SOP\QFP\QFN测试座老化座夹治具烧录座转换插座ICsocket$: 鸿怡电子定制非标SOP\QFP\QFN测试座老化座夹治具烧录座转换插座ICsocket

采用翻盖式，下压平稳接触稳定；
上盖的IC压板采用翻盖结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板结构有...
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: DFN8-1.27一拖十六老化测试座适用于自动化设备

型号: DFN8/10一拖十六旋钮下压式老化座
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试，烧录，编程，老化
封装方式: QFN
引脚间距: 1.27/0.8/0.5mm
本体尺寸...
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: FPC软排线通用快速测试夹金手指在线免拆测试夹子转接夹

产品特点及性能参数：
产品通用程度高，可适用于同间距不同PIN数的PFC软排线
目前可应用的间距为：0.25/0.3/0.5/0.6/0.65/0.8/1.0/1.27MM等
测试寿命可达20万次以上，是同类YOKOWO夹子寿命的10倍以上...
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: BGA封装有球测试治具CPU测试架测试夹具探针座IC功能检测socket

客户提供测试主板
夹具IC卡座采用翻盖式旋钮结构，下压平稳受力均匀接触稳定；
使用爪头探针，尖头头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板结构有...
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: BGA153测试治具EMMC测试架BGA153测试座老化座手机字库测试架BGA顶窗下压测试座

类型：合金顶窗按压式
封装：BGA153
IC尺寸：11.5*13mm
间距：0.5mm
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: BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板...
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: 邮票孔模块测试治具模块测试架定制测试座集成模块测试治具

产品特点及性能参数：
采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保I...
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: CPU测试治具 BGA1156球测试架 CPU测试架 PBGA测试治具 CPU测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
高精度的定位槽或导向孔，...
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: 老化测试座1206/1210贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具插座

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃——+150℃
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: 大电流弹片微针模组

测试座 – 微针模组
封装类型ZIF, BTB 连接器 (公母座), BTB Connector, PCB
引脚数2~100
间距0.175mm ~ 0.4mm
导电体Other
用于小间距的FPC/连接器，照相机模组...
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: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介...
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: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介...
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: HMILU测试探针P50-F

产品名称：HMILU-P50-F、HMILU-PA50-F
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
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: HMILU测试探针P50-H

产品名称：HMILU-P50-H、HMILU-PA50-H
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
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: 测试探针HY-G1353-T

产品名称：HY-G1353-T
所属分类：测试探针
产品简介：HY-G1353-T-T探针、1.36mm测试针、总长36.5mm、弹簧针、测试针、顶针、探针
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针管：磷铜管...
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: 新开模晶振3225探针测试座贴片晶振老化座3225晶振老化座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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