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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制DFN8pin-0.5mm-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.2*2.0mm
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: 定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座
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: QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

QFN48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
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: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化测试座

JFP8pin元器件老化座规格参数：
元器件封装形式：JFP
元器件引脚：8pin
元器件引脚间距：1.27mm
适配元器件尺寸：7.5mm
更多 +

: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件编程烧录座

JFP8pin元器件编程烧录座规格参数：
芯片封装形式：JFP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：7.5mm
带转接板烧录座
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: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
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: QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制BGA331pin（实际下针188PIN）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: 定制DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座

DFN5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
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: QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
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: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
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: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
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: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
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: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm 更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
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: QFP100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座

QFP100pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
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: 定制QFN60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座

QFN60pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0..55mm
适用芯片尺寸：12×6.6mm
更多 +

: TO277B-3L-SMC5翻盖老化座

TO277B老化测试座规格参数：
封装类型:TO
IC间距:1.8mm
IC本体尺寸:5.4mm
IC含脚尺寸:6.5mm
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