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: 定制BGA1268（实际下针340pin)-0.5mm-25.6x15.3mm合金旋钮探针测试座

BGA1268pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：1268pin（实际下针340pin）
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：25.6*15.3mm
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: 定制BGA9pin-0.5mm-1.5*1.5mm合金翻盖式测试座

BGA9pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：9pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.5*1.5mm
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: 定制QFN40pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
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: 定制12pin-2.54mm-19.5x16.5合金翻盖直插式元器件可靠性测试座

元器件可靠性直插式测试座规格参数：
品牌：HMILU
元器件引脚：12pin
元器件引脚间距：2.54mm
适配元器件尺寸：19.5*16.5mm
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: 定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座

VSSOP32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：VSSOP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4.9*8.1mm
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: 定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座

VSSOP32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：VSSOP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4.9*8.1mm
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: 定制光电模块MSOP8pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座

MSOP8pin光电模块测试座规格参数：
品牌：HMILU
模块封装形式：MSOP
模块引脚：8pin
模块引脚间距：0.65mm
适配光电模块尺寸：3*3mm
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: 定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金顶窗下压测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*5mm
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: 定制SOT23--8L-0.65mm-2.9x2.8mm合金顶窗下压测试座

SOT23-8L芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SOT23
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2.9*2.8mm
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: 定制BGA169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座

BGA169pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：169pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制QFN24pin-0.5mm-4x4mm合金顶窗下压测试座

QFN24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

QFN64pin芯片手自一体测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：10*10mm
适配芯片厚度：1mm
适用芯片ATE自动...
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: 定制DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

DFN8pin芯片无磁测试座规格参数：
适用芯片封装形式：DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: 定制QFN20pin-0.5mm-4x4mm芯片测试治具

QFN20pin芯片测试治具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
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: 定制BGA8pin-0.5mm-2x2mm芯片塑胶翻盖测试座

BGA8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3mm
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: 定制邮票孔模块160pin-1.0mm-45×45mm合金旋钮翻盖测试座

邮票孔160pin模块测试座规格参数：
模块引脚：160pin
模块引脚间距：1.0mm
适配邮票孔模块尺寸：45*45mm
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: 定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm
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: 定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm
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: 定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

SMD4pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SMD
芯片引脚间距：3.8mm
适配芯片尺寸：7.55*7.55mm
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