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: LGA14pin翻盖合金探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.5×3mm
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: 定制DFN4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座

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: 定制QFN88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座

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: 定制DFN14_0.52测试座

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: 定制DFN8-0.95_8×8合金翻盖探针铜块测试座

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: DFN8-0.5（1×2）合金翻盖探针测试座

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: QFN10-0.5_2×3合金下压探针测试座带板

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: LGA14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2mm
芯片尺寸：14×22mm
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: 定制QFN24-1.0_7×7翻盖合金探针测试座

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: 定制DFN6-0.5 2×2合金翻盖老化座

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: 定制邮票孔38PIN-1.27_18×25.5合金翻盖探针烧录座

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: 定制DFN20-0.5_3.5×4.5合金翻盖老化座

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: 定制QFN32-0.89_8.84×8.84翻盖式合金探针老化座

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: 定制QFN21-0.5_3.8×3.4翻盖合金测试座

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: CNV-QFN28-DIP带板测试座

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: 定制QFN16-0.5_4.15×3.65合金翻盖测试座

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: 定制QFN32-0.47 8×8合金翻盖探针测试座

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: LGA45pin封装芯片旋钮合金翻盖测试座

LGA45pin芯片测试座规格芯片封装类型：LGA 芯片引脚：45pin 芯片引脚间距：0.8mm 芯片尺寸：7.8×8.5mm
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: BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48

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: 定制SOP84-0.8（36×13.5）翻盖旋钮探针老化座

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