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低成本 镀金探针 老化座 夹具 BGA256 封装芯片
产品简介:适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点:
①我司独有设计生产的老化探针,成本低,老化电气性能温度,寿命高;
②采用CNC加工方式,提供芯片的规格图纸即可设计;
③...
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定制BGA575翻盖旋钮探针测试座0.5间距夹具
烧录
座socket
产品简介:利用客户现有的PCBA定制测试socket,应用于BGA575封装芯片进行测试、读写。
适配IC封装规格:BGA575,间距0.5mm,尺寸13*13mm。
测试座技术参数:
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
...
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定制SMD8合金下压
烧录
座测试座socket老化夹具自动机台
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高
烧录
测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限...
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定制 QFN100
烧录
座 测试座 测试夹具 老化座 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压...
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定制 WLCSP20
烧录
座 夹具 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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88E1111 MARVELL测试治具测试架QFN96测试夹具socket
产品简介:88E1111 MARVELL 芯片QFN96封装测试治具(光通信接头)
性能参数:
工作频率:2.5GHZ;
工作温度:40℃~85℃;
单PIN电流:1A;
功率:无要求;
接触阻抗:≤100mΩ
射...
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定制BGA144-15x15合金旋钮翻盖测试座老化座高温老炼夹具测试socket
产品简介
①适配封装:BGA144,pitch1.27mm,尺寸15*15mm,厚度1.15mm。
②电气性能:频率600Mhz,电压小于5V,电流小于1A。
③使用环境温度:-55℃~155℃,85%rh,1000小时。
④应用场景:老化...
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定制LGA84翻盖合金测试座老化夹具
烧录
夹具socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制LCC48-1.0合金翻盖探针测试座
烧录
座夹具socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制邮票孔模块测试座
烧录
socket夹具治具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保IC定位精确;
探针可更换,维修方便,成本低;
KEEP工程绝缘材料制作;
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引...
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QFN48-0.35(5x5)
烧录
座 读写 夹具 测试座 老化 老炼治具 socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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MCU 测试socket QFN64
烧录
座 读写夹具 测试座 老化座老炼夹具9*9
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:1A
使用温度:-40℃~135℃@1000小...
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SOP16自动机台
烧录
座夹具合金探针pogoPIN测试读写socket
应用:自动机台设备
烧录
①结构:下压式; ②外壳材质:铝合金; ③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金; ④核心部件材质:peek陶瓷; ⑤额定电流:1A; ⑥操作压力:30g、PIN越多压...
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定制 邮票孔WiFi模块 测试座
烧录
座 48PIN PCB模块测试 夹具 socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制QFN40-0.35自动化open top socket
烧录
座 夹具 读写编程测试座
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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QFN16转DIP16
烧录
座读写编程座夹具老化测试socket 3*3
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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晶圆级封装 WLCSP115pin封装 芯片
烧录
座夹具 读写编程座 老化测试座socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制BGA132封装SSD颗粒测试座老化夹具测试工装
烧录
读写编程座
测试座特点
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力...
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定制LCC40
烧录
座测试夹具治具测试socket
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<...
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定制 QFN20 合金翻盖探针 测试座 测试夹具 治具 socket MCU测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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