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LGA45pin封装芯片旋钮合金翻盖测试座
LGA45pin芯片测试座规格
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:45pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:7.8×8.5mm
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[新闻中心]PLCC48封装光电通信模块测试座案例
2023年02月02日 11:20
目的:光电通信模块测试 名称:PLCC测试座、CLCC测试座 PLCC48pin封装芯片测试座规格: 芯片封装类型:CLCC、PLCC 芯片引脚:48pin 芯片引脚间距:1.0mm 芯片尺寸:16.4×16.4mm 芯片厚度:4.0mmCLCC封装芯片测试座 测试温度:-50~+100 测试时长:持续1000小时左右 测试频率:1MHZ 测试速率:单通道速率(3Gbps-10Gbps) 测试电流:500毫安内光电通信模块测试座 在鸿怡电子众多HMILU封装芯片测
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[鸿怡动态]如何对CIS芯片测试与CIS芯片测试座介绍
2022年10月19日 11:23
CMOS图像传感器的固有设备结构特征。每个像素和每个像素都有一个独立的放大器。图像传感器固定模式的噪声会在放大器中产生较小的不匹配或偏差。因此在CMOS图像传感器图像传感器之前,需要对图像传感器进行使用CMOS校准图像传感器。CMOS图像传感器校准光源常用的有白炽灯、卤钨灯、LED灯。白炽灯和卤钨灯存在发光效率低、功耗大等诸多问题。与前两者相比,LED灯具有节能、环保、寿命长、体积小、功耗小等特点
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