最近台电发布了一款平板电脑：台电T30。台电T30采用了一块10.1英寸全贴合IPS屏幕，分辨率为1920*1200，屏幕显示效果十分出色，并且还内置了护眼模式。性能方面，台电T30采用了一颗联发科的Helio P70八核处理器，这颗专门定制的处理器，采用了12nm工艺制程，不仅功耗更低，性能方面也同样出色，整体性能相当于骁龙660处理器。

另外，这款新平板采用了8000毫安的聚合物锂电池，轻松满足日常使用需要，解决频繁充电的烦恼。

更让人惊喜的是，台电T30支持4G通话/上网，配备前置/后置高清摄像头，满足日常拍照、视频通话的需求。

近年来，大批的智能黑科技产品如雨后春笋般纷纷涌现，如手机、平板电脑、笔记本、智能穿戴设备等经历了革命性的创新。互联网技术的发展进步推进了数码科技产业的革新，也影响了相关连接器测试模组产业的发展转变。

平板电脑发展的趋势如此之快，固对其主要的部件，如屏幕、电池、摄像头等进行相关的测试是非常重要的，那么其中的连接器测试模组该如何选择呢？

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为了适应目前市场上多样化的测试要求，针对BTB/FPC连接器的测试部件，如3C锂电池、LCD屏与OLED屏、摄像头等，鸿怡电子自主研发了一款BTB/FPC弹片微针模组blade pin。

深圳鸿怡电子有限公司通过三年的潜心钻研，自主研发了一款测试连接器模组的大电流BTB/FPC弹片微针模组，且目前已获得国家专利。与传统模组pogo pin相比，这款弹片模组有着许多惊人的亮点

第一，blade pin是大电流模组，最高可承受高达30A的额定电流，包容1-30A之间的电流，完美应对复杂的测试环境与要求（尤其对于电流通过要求高的3C锂电池而言）。而传统的pogo pin过流能力差，仅为1A。

第二，blade pin的pitch可取值范围大，在0.1mm-0.4mm，最小间距可达0.1mm！而pogo pin的pitch可取值范围小，仅在0.3mm-0.4mm，无法应对多样化的测试要求

第三，blade pin的平均使用寿命高达20W次，是pogo pin的四倍！传统pogo pin的平均使用寿命仅为5W次，无法应对高频率的测试要求，更换次数频繁，拖慢测试进度。

第四，blade pin采用的是弹片结构，体化成型后期加硬镀金处理，接触形状和整体高度很容易按照客户要求制作，测试较为稳定。而传统pogo pin的探针结构易导致断针、卡pin等不稳定的现象发生，进而影响测试效率，拖慢测试进度。

针对BTB/FPC连接器的测试部件，如3C锂电池、LCD屏与OLED屏、摄像头等，这款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin提供了一个优秀的解决方案，blade pin的适用性范围广、稳定性高、寿命长等特点都给相关的测试人员带来了莫大的方便。选择鸿怡电子，选择blade pin，就是选择了安全、高效率、低成本的测试方式。