随着现代电子信息技术的发展，集成电路IC的使用越来越广泛，随之而来的测试需求也越来越多。常规的IC测试座公司均有专门开模，但是只对对应一种封装参数的芯片。若待测试IC的脚位和尺寸大小发生变化时，往往需要进行定制IC测试座.

鸿怡电子拥有多年的socket设计、制作经验，可根据客户要求，提供专业的探针test socket,适用于IC的研发、测试。

结构示意图：

定制IC测试座数据：

1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等

2、材料：FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Cenamlc

3、适用IC封装：BGA/QFN/QFP/SOP/WLCSP/LGA/SOP/各类邮票孔芯片/模块等

4、可定制测试座结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top

5、接触方式：探针

定制IC测试座特点：

1、高精度的定位槽和导向孔，测试准确无误；

2、根据实际测试情况，选用不同的探针，可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试；

3、人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；

4、进口探针、工程材料配合高精度制作设备，socket测试更稳定，使用寿命更长。