BGA152探针测试座 BGA132 Flash烧录编程和测试|鸿怡动态

震撼发布，十七年专注，鸿怡电子又一颠覆flash测试行业的新产品BGA132/152探针测试座横空出世，我们郑重承诺，我们BGA132/152探针测试座保修一年，可以维修！其他弹片测试座不能维修！探针座的额定电流，频率，电阻值，寿命等性能都远远强于弹片座子，并且可以维修，芯片测试良率提高3%-8%，尤其对B13/B16的晶元测试非常稳定。

探针测试座相对于传统的弹片测试座电阻更小，能过更高的测试频率。弹片能过电流最大为0.5A，而探针能过最大电流为3A。

未来3D-NAND芯片频率越来越高，普通的弹片已经没有办法满足正常的测试需求，使用探针测试座能大大的提升测试良率。

探针结构测试座测试寿命能达到15万次以上。

产品简介

产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试

适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座

特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单

规格尺寸

型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) ,14*18mm (BGA152)