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精密定制IC测试座 / Product Center

BGA436pin-0.65mm-15X15mm合金旋钮翻盖芯片测试座
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TQFN20pin-0.4mm-2x3mm塑胶翻盖探针芯片编程烧录座
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定制QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座
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定制QFN80pin-0.35mm-8x8mm合金翻盖探针芯片老化测试座
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定制LGA8pin-0.93mm-4x3mm合金翻盖探针芯片测试座
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定制EMMC153pin-0.5mm-11.5x13mm合金旋钮翻盖芯片测试座
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定制QFN32pin-1.0mm-12x12mm合金旋钮翻盖芯片测试座socket
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定制BGA64pin-0.4mm-4.4x4.05mm塑胶翻盖探针芯片测试座socket
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定制DFN6pin-0.4mm-1.5x1.2mm芯片合金翻盖探针测试座
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模块18pin-1.1mm-10.1x9.7mm合金翻盖测试座
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定制BGA28pin-0.35mm-2.734x1.656mm合金下压式芯片老化测试座
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DFN8pin-1.27mm-5x6mm合金翻盖探针传感器芯片测试座
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QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮探针芯片测试座
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定制BGA81pin-0.8mm-8x8mm合金翻盖芯片测试座
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定制TSOP56pin-0.5mm-18.4x16.2mm翻盖探针芯片老化座
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定制BGA1936pin-1.0mm-45*45mm合金旋钮翻盖双扣式带散热芯片测试座
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定制DFN20pin-1.2mm-12x12mm合金翻盖芯片测试座
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定制BGA100pin-0.5mm-7x7mm塑胶翻盖芯片探针测试座
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定制BGA1648(实际下针304pin)-0.5mm-26x19.5mm合金旋钮芯片探针测试座
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定制模块64+12pin-1.0mm-24*24mm合金旋钮翻盖IC测试座
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