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鸿怡测试座耐高低温、抗老化、寿命长,世界500强企业指定供应商。
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鸿怡动态 / News Center

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    1818-01

    晶振是否起振?如何判断? 我公司生产设计开模?的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本,经过不断的开发试验,我司已将治具制作标准化,提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本...

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    2317-12

    FPC测试治具的检测方法同传统FPC测试方法的比较 我公司的FPC测试治具采用了开模弹片的方式,采用高精度模具开模,将测试模块实现标准化。最小间距可做到0.2mm,大大降低了客户的测试成本。采用PEI/Torlon材料,高精度、持久耐磨损。使用寿命可达...

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    2617-09

    鸿怡电子国庆放假通知 深圳鸿怡电子有限公司 专注17年生产研发各类封装、间距、尺寸之IC测试座、手机测试治具、晶振测试座产品。欢迎有需要的客户咨询洽谈!

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    2117-04

    鸿怡电子新产品-晶振频率测试座系列 目前,鸿怡电子经过多年的努力与丰富的IC测试座生产与研发经验,在公司技术人员的不懈努力下。产品种类也在日渐扩大,如”SOP系列测试座、QFN测试座、QFP测试座、BGA测试座、EMMC测试座&ld...

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    0217-01

    2017鸿怡电子新年展望 2017年是关键的一年,鸿怡电子科技携我公司的制造的IC测试老化产品愿意与半导体产业共同发展,共同期待更多的好消息传来。让我们携手共赢!

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    1916-07

    鸿怡小编给您分析测试治具在使用时的注意事项 测试治具是一种为了实现某一个产品或半成品进行检测、试验以判断其功能是否符合设计者的原始意思而需要加工制作一个辅助性的设备。其主要 用在电子、电工、电脑代工厂商的生产线上,用于测试PC...

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    1916-07

    鸿怡电子LGA测试座特点及性能参数 LGA测试座特点及性能参数: 封装兼容设计,只要换座头,可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。 大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGAFLASH; 主控板兼容设计,只要...

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    1916-07

    阐述IC测试座的性能及结构特点 IC测试座主要就是用於检查查在线的单个IC元器件以及各电路网络的开、短路情况,以及模拟器件作用和数字器件逻辑作用测试。 IC测试座就是测试期间在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的...

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    1916-07

    FCT测试治具电机烧坏的原因分析 FCT测试治具电机烧坏是什么原因呢?下面我们一起来分析下: 1、电机受潮。因为进水或受潮造成的绝缘降低,也是常见的损坏原因,要做好日常的防护。注意和定期测验绝缘。尤其是用变频器驱动的电机...

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    1916-07

    弹簧针结构的IC测试座的保养与清洗方法详情介绍 对IC测试座进行定期的保养与清洗是非常重要的,主要是为了保证其使用寿命。在保养与清洗之前一定要先了解它的构造,只有了解了它的构造之 后才能更好的进行保养与清洗。 IC测试座头一般采用铝合...

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    1916-07

    探讨关于BGA测试座所具有的特点及价格 BGA测试座具有哪些特点?价格是怎样的?下面我们一起来探讨一下。 BGA测试座是针对BGA封装的芯片进行测试的一种治具。现在市场上的BGA测试座除了常见的有现货之外,其他型号的都是没有现货的,需...

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