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鸿怡测试座耐高低温、抗老化、寿命长,世界500强企业指定供应商。
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鸿怡动态 / News Center

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    1419-01

    介绍一款新的WLCSP封装测试座 ANDK测试座是中国较早的测试座生产商,生产IC测试座、老化座等。在智能设备快速发展的时代,其中使用的集成芯片受到越来越多的关注。 WLCSP晶圆级测试座用于测试一系列集成芯片,如蓝牙,电源管...

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    1119-01

    烧录BGA芯片时,烧录座的选型技巧? 当前,eMMC芯片以其速度快、接口简单、标准化和无需坏块管理等特点,广泛运用于手机、平板电脑、智能电视、机顶盒等电子产品当中。eMMC烧录也是一个需要考虑的问题,让烧录稳定,首先要让硬件连...

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    0919-01

    DDR3/4内存条测试方法及其测试治具 如今,存储器件在计算机、汽车与消费电子产品上可谓无所不在。其中DDR SDRAM,是最常用的存储器设计技术之一,而随着该技术的发展,其传输速率在日益加快,功耗在日益降低。 传输速度加快使得此...

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    0419-01

    鸿怡电子FPC/BTB微针模组的应用 FPC(Flexible Printed Circuit),即柔性电路板、可挠性PCB。相比刚性PCB,具有众多优点,比如:配线密度高、组装密度高、体积小、重量轻、厚度薄、弯折性好,能增加接线层,增加设计弹性,可以...

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    0319-01

    鸿怡电子针对有源晶振编程的晶振测试座 什么是可编程晶振呢?可编程晶振有什么好处?今天,鸿怡电子小编就为大家介绍有关于可编程晶振以及晶振编程使用的晶振编程座。 可编程晶振就是可以满足任何频点的晶体振荡器,经过频率发生器的放...

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    0219-01

    为什么一定要做芯片验证呢? IC验证是指在芯片流片之前对其硬件和软件进行充分的验证,可以及时发现芯片设计过程中很难发现的一些缺陷,及时调整和迭代,以保证流片顺利进行,因此芯片测试治具已经成为芯片验证环节的必备工...

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    2918-12

    为什么芯片在出厂前需要做加速老化试验? 最近,遇到挺多客户,咨询用于做加速老化试验的芯片老化座..今天,鸿怡电子就为大家介绍一下,芯片为什么需要做加速老化试验? 随着芯片打入汽车、云计算和工业物联网等市场,芯片的可靠性渐渐成...

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    2818-12

    鸿怡电子—关于2019年元旦节放假安排 尊敬的各位客户: 值此元旦节日来临之际,鸿怡电子全体员工预祝各客户及业界同仁们,节日快乐,2019年幸福长长久久! 根据《国务院办公厅关于2019年部分节假日安排的通知》我司元旦...

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    2718-12

    晶振测试座的应用 概观 陶瓷谐振器相关测试座,陶瓷滤波器插座,晶振测试座可用于做功能测试和烧录。 陶瓷晶体元件通常是由压电陶瓷制成的谐振元件。它在工作原理,等效电路和应用电路方面与晶体振荡器有相似之处...

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    2418-12

    IC测试座/测试治具维护说明 HMILU-深圳市鸿怡电子有限公司 ——测试座/测试治具使用、维护说明 目录—— 一、测试座/测试治具结构爆炸示意图 二、标准测试流程 三、有球测试和无球测试的区别 四、P...

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    2018-12

    IC测试治具的类型 IC测试治具的测试一般可分为哪几种类型?下面跟随小编一起来里了解一下吧。 IC测试治具的测试可分为物理性外观测试、IC功能测试、化学腐蚀开盖测试、可焊性测试、直流参数(电性能)测试、不损...

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    1218-12

    鸿怡电子IC测试座设计特点 IC测试座(测试插座)是对IC器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。鸿怡电子IC测试座设计特点:我们的IC测试座采用带浮动Z轴压力盘的钳壳顶盖,以兼容...

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    1118-12

    IC封装测试工艺流程(三) 在前面我们介绍了IC封装的封装形式和IC封装所需原材料,现在我们来正式谈一下IC封装的工艺流程。 IC封装的流程又分为:FOL/前段—EOL/中段—Plating/电镀—EOL/后段—Final...

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    2918-11

    定制IC测试座的工艺流程 1、了解与客户定制IC插座对应的IC测试插座的封装参数和测试要求; 2、销售人员将对客户的信息进行排序,并将其发送给工程评估部门进行可行性评估和报价。 3、确认结构,计划和报价,并支付押金后...

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    2318-11

    厉害了,我们的IC测试 深圳市鸿怡电子有限公司坐拥一支在集成电路测试行业有多年经验的团队,立志打造全球领先的SOCKET供应厂商。 主要测试产品分布如下: Flash自动测试机台:FLASH量产测试低成本解决方案 主要用于f...

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    2218-11

    DDR开短路测试治具 为大家介绍一款用于DDR3芯片的开短路测试治具. 首先,它适配的芯片规格如下,可供参考: 1、DDR3×878 Ball pitch:0.8 2、频率F:超过2800Mhz 3、适用于:三星、海力士、华邦、镁光等各类内...

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    1918-11

    新的RF测试座结构介绍 为了满足高RF测试要求,我们的新RF测试座即将推出并测试正常。RF测试座在许多地方得到改进:1.钻孔板和浮板由铜材料使用。2.使用高端射频电缆。3.翻盖加散热部分。 4.稳定的开关盖有助于芯片销接...

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    0918-11

    什么是功能性IC测试治具? 什么是功能测试治具?功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序,以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备,功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、R...

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    0718-11

    icsocket、测试治具的操作注意事项 ic测试治具是一种用来测试BGA、CPU等芯片的IC-SOKCET,不仅设计精巧,而且定位精度极高,功能稳定。根据IC的参数鸿怡电子会分别采用026-078等优质进口探针接触。 那么IC测试治具在操作时注意哪些...

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    0618-11

    IC测试治具探针的清洁与保养 icsocket测试治具的测试探针如何保养?下面鸿怡电子就来分享下经验: 1、环境保养:测试环境是引起测试探针变脏的主要因素,空气中播中污染物,像灰尘会掉落在针头上引起接触问题,所以我们要对...

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