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定制射频IC测试座必须要知道的几点要素?

2018-10-10 17:14:25 

随着无线设备复杂性急剧增加,手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段,到现在的4个GSM频段,3个CDMA频段,5个UMTS频段和10个LTE频段。未来,诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性.射频芯片的应用也越来越广泛。

经常接到客户的询盘,需要定制某款射频IC的测试座或是测试治具。这时我们的销售工程师不仅需要知道客户手中对应芯片的封装参数、测试频率、电流、温度等要求,还需要了解关于射频IC更详细的关于频率的插损、回损等参数。

那么,插损和回损是什么呢?

插损即插入损耗:对于很多射频无源器件来说,插入损耗是其中一个关键的测试项目。在一个系统之中,由于某个器件的插入而发生的功率的损耗便是插入损耗,通常插入损耗由dB来表示。

一般来说,对于射频器件来说,如果在器件插入之前传输给负载的功率是,插入之后负载接收到的功率是,则以dB为单位的插入损耗由下式给出公式:

射频IC测试座

作为射频开关的关键指标之一,每个开关都会存在一些寄生电容、寄生电感、寄生电阻等。在开关做信号路由的时候,这些寄生元件会直接将信号进行衰减和降低。而这些寄生元件随着输入信号频率的变化引起功率损耗,因此对于射频开关来说在不同频率下进行插入损耗测试是必要的一步。



回波损耗又称为反射损耗。VSWR是反射波到入射波的比值,在射频开关芯片一些实验室验证测试中会进行这个项目的测试。在高频情况下,对于一个理想系统,传输能量为100%;当信号在不同的介质(如一些阻抗不匹配的元件)上传输时,如果能量未被全部吸收,反射就会发生。

在射频开关芯片中,这种不匹配可能是由于连接器上的阻抗不匹配等。VSWR是反射波功率的一种测量方法,它也可以用来测量传输线上的功率损耗。反射波与输入信号叠加形成驻波,反射引起相消干扰,沿着传输线在不同时间、距离产生电压波峰、波谷,因此VSWR被定义为最高电压与最低电压之比。

回波损耗是传输线端口的反射波功率与入射波功率之比,以对数形式来表示,单位是dB,一般是负值,其绝对值可以称为反射损耗。


了解了以上知识,对定制射频IC测试座,想必您也有了更进一步的认识。鸿怡电子18年专注生产定制各类IC的测试座、测试治具。如果您有任何需求,都请随时联系我们!

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