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弹片测试座和探针测试座的对比

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浏览:- 发布日期:2018-09-26 17:33:34【
弹片测试座和探针测试座哪种更好呢?下面一起来了解下吧。

什么是探针?探针有那些常用种类?

探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。

IC芯片老化、测试、烧录主要用到种类,探针的主要参数。

高频探针(CoaxialProbes)

用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

高电流探针(HighCurrentProbes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

半导体探针(SemiconductorProbes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ωacteristic

探针的主要参数:

引脚数量间距(mm)使用温度最高IC频率

探针在测试座里的使用状况:有四个接触点,摩擦点多,高低温下容易变形,镀金范围广。核心技术掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。

什么是弹片?

弹片是电测试的接触媒介,为精密型电子五金元器件,比探针工艺简单,使用性能比探针好。

弹片在测试座里的使用状况:有二个接触点,没有摩擦点,高低温下不会变形,镀金范围小。核心技术掌握在鸿怡电子手中,弹性好,不会出现偏移,没有磨损,寿命长。

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